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TEM固體熱-電樣品桿是在標準樣品臺基礎上搭建兩電極反饋控溫的加熱模塊、兩電極電學模塊，在透射電鏡中實現樣品的皮米級高分辨成像。能夠在透射電鏡（TEM）內為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結構（例如原子結構）在氣氛環(huán)境中的演變過程，以直接揭示樣品結構與其氣固界面反應性質之間的科學關系?？捎行嵘蒲腥藛T科研水平，極大拓展透射電鏡TEM應用范圍。加熱模塊：精準、均勻、安全控溫，溫度精度優(yōu)于0.1K，最高溫度1300℃。通過精確熱場模擬及芯片設計，實現無漂移...

TEM氣體加熱樣品桿是通過MEMS（微機電系統(tǒng)）微加工工藝，在透射電鏡內部搭建可視化NANO-LAB（納米實驗室）和四電極反饋控溫模塊，加熱區(qū)覆蓋整個觀測區(qū)域，升溫快、熱場穩(wěn)定且均勻，實現樣品的氣氛環(huán)境皮米級高分辨成像和精準、均勻、安全控溫。設備的氣體流道采用惰性材料防腐設計，進氣采用納流體微分控制方式，可以有效防止?jié)B漏，革命性提升原位設備安全性，保障實驗過程電鏡安全。對應電鏡原位觀察而言，可觀察范圍基本在微米級別，整體可觀察體積小于納升，因此過量氣體對實驗毫無幫助，且引入巨...

TEM固體超高溫加熱樣品桿是針對納米材料超高溫性能研究所開發(fā)的一款性價比高的原位產品，可對樣品進行超高溫加熱，并保持較高的加熱精度。TEM固體超高溫加熱樣品桿是在標準樣品桿的基礎上搭載高溫加熱模塊，能夠對納米粉體材料進行超高溫加熱，*高溫度1500℃。高溫加熱模塊拆卸和組裝方便快捷，性價比高。另外，為了方便科研人員尋找合適樣品和觀察樣品加熱過程的變化，超新芯設計了具有多個平坦的樣品承載平臺的方形彈簧加熱元件，通過該設計，可極大地提高實驗效率。樣品桿加熱模塊采用具有耐高溫且惰性...

SEM力學樣品臺是在標準樣品臺的基礎上設計力學控制模塊和控制單元。該系統(tǒng)采用感應微壓頭，在掃描電鏡內可直接觀察納米機械測試，不僅可以對納米材料進行機械擠壓的成像，而且同時可以獲取載荷-位移數據。在使用SEM力學樣品臺實驗時，用戶選擇Push-to-Pull模塊可實現樣品拉伸實驗，或者選擇加熱模塊可實現熱場和力場耦合實驗，加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式（RT-1000℃，1K），或者選擇加電模塊（*大電壓±50V，電流范圍：pA~mA）...

SEM液體電化學樣品臺是通過MEMS微加工工藝，在標準的掃描電鏡樣品臺基礎上設計電路，搭建可視化NANO-LAB和電學控制模塊，配合外接法蘭可與電化學工作站連接通信。原位掃描電化學反應系統(tǒng)在標準樣品臺內置三電極電學模塊，可在掃描電鏡中實現液體樣品的電化學反應過程的實時動態(tài)成像。SEM液相電化學樣品臺可以同時對四個液體樣品（三個靜態(tài)和一個流體）進行觀察，每個樣品都被密封在各自的芯片內，且互不影響。芯片采用與原位透射電子顯微系統(tǒng)一樣的上下兩片芯片，通過鍵合內封和環(huán)氧樹脂外封與電鏡...